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晶振頻率輸出為什么時有時無或頻率發生跳變？

有如下幾種情況會導致此情況：

• 晶振供電系統存在問題。
• 晶振輸出端與其他走線距離過近，存在短路的可能。
• ?晶振存在假焊的可能。
• 晶體在生產過程中存在污染、電極銀層不牢，導電膠開裂等工藝問題或水晶材料有問題。
• 晶體DLD（激勵）過大會導致晶體出現”休眠”（停振）的現象，當晶體的外界發生改變時,如溫度改變、振動、重新通斷電等,晶體又可以重新振蕩。
• SC-CUT晶體由于B模的振幅超過C模，所以在SC-CUT晶體的OCXO振蕩回路必須增加B模抑制電路，如果抑制電路參數設置不合理，OCXO將輸出B模的頻率。B模的頻率通常是C模的1.08倍，如10MHZ OCXO的輸出頻率變成10.8MHz時就是B模抑制參數不合理。

需要注意的是：如果B模抑制電路參數設計不合理，B模現象是隨機發生的，晶振再次通電時，很有可能又恢復正常。

測試儀表的精度應該考慮哪些因素？

由于晶振是一個高穩定和低噪聲的優質信號源，在測試晶振的穩定性指標如溫度穩定度、電源特性、負載特性時，考慮日波動的因素，（我們）推薦選擇溫度穩定度指標比被測晶振高一個量級的晶振，或原子鐘作為參考信號； 在測試準確度指標時，推薦選擇準確度比被測晶振高一個量級的晶振，或原子鐘作為參考信號。 在測試相噪指標時，參考源的相噪建議比被測晶振低-5dBc/Hz以上，且相噪測試儀表的底噪應該比被測晶振低-10dBc/Hz以上。?
一些測量儀表是內置高穩OCXO作為參考信號，建議在測量前先預熱24小時以上。?
需要特別注意的是：對于OCXO產品，由于存在開機特性的因素，在測試OCXO的溫度穩定性、電源特性、短穩等精密指標時，OCXO需通電24小時以上以免出現測試誤差。

總結

以上是生活随笔為你收集整理的晶振测试与使用中的主要问题(z)的全部內容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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