摘要

故障診斷是集成電路領域中的重要研究方向，基于測試激勵集方法求解候選故障診斷是目前較為高效的診斷方法，而GTreord是目前具有較高診斷準確性的方法.在對GTreord方法深入研究的基礎上，本文依據測試激勵與候選故障診斷解之間的結構特征，通過分析電路故障輸出響應，提出結合結構特征的測試激勵集重排序的候選診斷（Reordering Test Default Diagnosis，RTDD）方法.根據測試激勵對生成候選故障診斷解集合的影響程度的不同，提出測試分數概念；通過比較電路的實際故障輸出響應、無故障輸出響應、模型故障輸出響應，計算出測試激勵的測試分數.測試激勵集依據測試分數進行重排序，并將重排序后的測試激勵集用于故障診斷.實驗結果表明，與GTreord方法相比，RTDD方法提高了測試激勵集重排序的效率，求解時間提高1~4個數量級；此外，在保障同樣診斷準確性的情況下，RTDD方法有效減少了所需測試的激勵個數.

關鍵詞： 故障診斷 ; 測試分數 ; 測試激勵集重排序

1 引言

隨著現代半導體工業(yè)的迅猛發(fā)展，如今集成電路

總結

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