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質量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以說是IC產品的生命。質量（Quality）就是產品性能的測量，它回答了一個產品是否合乎規格（SPEC）的要求，是否符合各項性能指標的問題；可靠性（Reliability）則是對產品耐久力的測量，它回答了一個產品生命周期有多長，簡單說，它能用多久的問題。所以說質量（Quality）解決的是現階段的問題，可靠性（Reliability）解決的是一段時間以后的問題。知道了兩者的區別，我們發現，Quality的問題解決方法往往比較直接，設計和制造單位在產品生產出來后，通過簡單的測試，就可以知道產品的性能是否達到SPEC的要求，這種測試在IC的設計和制造單位就可以進行。相對而言，Reliability的問題似乎就變的十分棘手，這個產品能用多久，誰會能保證今天產品能用，明天就一定能用？

為了解決這個問題，人們制定了各種各樣的標準，如: JESD22-A108-A、EIAJED- 4701-D101，注：JEDEC（Joint Electron Device Engineering Council）電子設備工程聯合委員會，著名國際電子行業標準化組織之一；EIAJED：日本電子工業協會，著名國際電子行業標準化組織之一。

在介紹一些目前較為流行的Reliability的測試方法之前，我們先來認識一下IC產品的生命周期。典型的IC產品的生命周期可以用一條浴缸曲線（Bathtub Curve）來表示。

Region (I) 被稱為早夭期（Infancy period）
這個階段產品的 failure rate 快速下降，造成失效的原因在于IC設計和生產過程中的缺陷；

Region (II) 被稱為使用期（Useful life period）
在這個階段產品的failure rate保持穩定，失效的原因往往是隨機的，比如溫度變化等等；

Region (III) 被稱為磨耗期（Wear-Out period）
在這個階段failure rate 會快速升高，失效的原因就是產品的長期使用所造成的老化等。

認識了典型IC產品的生命周期，我們就可以看到，Reliability的問題就是要力圖將處于早夭期failure的產品去除并估算其良率，預計產品的使用期，并且找到failure的原因，尤其是在IC生產，封裝，存儲等方面出現的問題所造成的失效原因。

下面就是一些 IC產品可靠性等級測試項目（IC Product Level reliability test items ）

總結

以上是生活随笔為你收集整理的深度解析IC产品的质量与可靠性测试方法的全部內容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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