掠入射X射線散射（GIXS）包括廣角散射GIWAXS和小角度散射GISAXS，是基于同步輻射光源的X射線散射技術，用于表征表面或薄膜中的納米級密度相關性、納米物體的形狀、以及晶格中的原子和分子距離，被廣泛的應用于研究有機太陽能電池和鈣鈦礦太陽能電池的形貌特征，晶體結構等。

比如在OPV材料結構研究中，GIWAXS被用來探測分子尺度、結構信息，常用于研究有機給體和受體材料在活性層中的分子堆疊，如結晶度、晶格常數和取向性。GISAXS可以看作是傳統小角散射和全反射測量的結合，能夠獲得表面、薄膜、覆蓋層中的納米結構（如納米顆粒、量子點等）的尺寸分布、形狀以及排列分布的相關信息。

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測試效果不好是什么原因導致？

散射信號會包含基底的信息，如不能完全扣除背底信號，就會導致無效信號干擾樣品信號，同時以下情況也是原因之一

1.????制樣不均勻，光斑打在了不合適位置；

2.????樣品表面不平整，影響信號；

3.????掠入射角度選擇不適宜；

4.????線站測試問題，如光束線不穩等。

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同步輻射散射測試的樣品要求：

1.樣品測試請提供空白基底樣，要求在空白基底上沉積與器件制備工藝一致的傳輸層且測試收費；

2.基底多為單晶硅，可提供，若自行準備尺寸不可超過2.5*2.5cm，1*1cm最好，默認樣品不回收；

3.測試前請明確測試條件，如q值范圍、掠入射角度范圍、曝光時間等；

4.如對數據格式、數據處理有疑問，請先瀏覽數據說明；

5.請根據材料的耐氧、耐濕等性質，妥善封裝樣品；

測試狗文庫百科

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總結

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