一张表看懂MOS管参数——(业务员、采购应知应会的MOS管参数)
作者:快捷芯(功率半導體創新品牌)
MOS管的參數眾多,眼花瞭亂,但作為業務員、采購必須了解的參數卻不多,下一番功夫就弄清楚了。以下表格展示了一些重要的MOS管參數,但必須了解的是標紅色部分。
| Symbol 符號 | Parameter 參數 | 中文含義 | 詳解 | 以快捷芯KJ006N06T規格書為例 規格書下載鏈接 |
| Channel | N、P、N+N、P+P、N+P | N管、P管、雙N管、雙P管、N+P管 | 代表不同的溝道 | N-Channel,標題已經標注這顆是N管 |
| Package | 封裝 | 不同的MOS管芯片有不同的封裝形式 | TOLL-8L ,這是一種新型封裝,可實現大電流、低內阻,是儲能、BMS、電機驅動理想的MOS | |
| Quantity | 數量 | 一包的數量,一般訂單量為該數量的整數倍 | 2000PCS,即一個小包裝的數量 | |
| Marking | 絲印 | 用于標志產品的型號、晶圓型號、生產日期 例如YWWXXX,Y為年,WW為周,XXX為晶圓后三位 | 見Marking Information | |
| G、 S、D | Gate、Drain、Source | 柵極、源極、漏極 | 柵級管腳接管理IC,源極、漏極 | 見2.Pin Description |
| VDS | Drain-source voltage | 漏-源電壓、耐壓值 | 在柵源短接,漏-源額定電壓(VDSS)是指漏-源未發生雪崩擊穿前所能施加的最大電壓。根據溫度的不同,實際雪崩擊穿電壓可能低于額定VDSS。 | 60V,一般說的多少伏的MOS管指的就是這個參數 |
| ID | Conditions drain current | 漏極直流電流、漏電流、最大漏源電流、連續漏電流 | 正常工作時,漏極與源極間所允許通過的最大電流,一般是在表面溫度25℃測試所得,這個參數會隨結溫度的上升而有所減小。MOS管的工作電流不應超過ID,實際開關電流通常小于ID 額定值@TC=25℃的一半,通常在1/3~1/4。 | 400A,25℃ 267A,100℃ 可以見過電流能力很強大 |
| IDM | Pulsed drain current | 最大脈沖漏電流 | 參數反映了器件可以處理的脈沖電流的高低,脈沖電流要遠高于連續的直流電流。 | 1200A |
| RDS(on) | Drain-source on-resistance | 漏源通態電阻、導通電阻 | 在特定的 VGS (通常為 10V)、結溫及漏極電流的前提下,MOSFET 導通時漏源間的最大阻抗,它是一個非常重要的參數,決定了MOSFET導通時的消耗功率。此參數通常會隨結溫度的上升而有所增大(正溫度特性)。?故應以此參數在最高作業結溫前提下的值作為損耗及壓降計算。 | 10V時,典型值為0.65mΩ,這種超低內阻產品屬于業界頂極水平,與英飛凌可以一較高下 |
| VGS | Gate-source voltage | 柵-源電壓、門級開啟電壓、最大柵源電壓 | 柵源兩極間可以施加的最大電壓,一般為:-20V~+20V。設定該電壓的主要目的是防止電壓過高導致的柵氧化層損傷。實際柵氧化層可承受的電壓遠高于額定電壓,但是會隨制造工藝的不同而改變,因此保持VGS在額定電壓以內可以保證應用的可靠性。 | ±20V |
| V(GS)th | Gate threshold voltage | 柵源閾值電壓、開啟電壓(閥值電壓)。 | 當外加柵極控制電壓VGS超過VGS(th)時,漏區和源區的表面反型層形成了連接的溝道。應用中,常將漏極短接條件下ID等于1毫安時的柵極電壓稱為開啟電壓。該參數一般會隨結溫度的上升而有所降低,即當溫度上升時,MOSFET將會在比較低的柵源電壓下開啟。 | 2-4V |
| EAS | Repetitive Avalanche Energy | 單脈沖雪崩擊穿能量 | 如果電壓過沖值(通常由于漏電流和雜散電感造成)未超過擊穿電壓,則器件不會發生雪崩擊穿,因此也就不需要消散雪崩擊穿的能力。雪崩擊穿能量標定了器件可以容忍的瞬時過沖電壓的安全值,其依賴于雪崩擊穿需要消散的能量。 | 2800 mJ |
| IDSS | Zero gate voltage drain current | 柵-源短路的漏極電流 飽和漏源電流 | 柵極電壓VGS=0、VDS為一定值時的漏源電流,一般在微安級。 | 1 μA |
| IGSS | Gate-body leakage current | 漏-源短路的柵極電流 柵源驅動電流或反向電流 | 特定的柵源電壓情況下流過柵極的漏電流,由于MOS輸入阻抗很大,IGSS一般在納安級。 | ±100 nA |
| VSD | Diode forward voltage | 漏源間體內反并聯二極管正向壓降 | 1.3 V | |
| V(BR)DSS | Drain-source breakdown voltage | 漏源擊穿電壓 | 在特定的溫度和柵源短接情況下,流過漏極電流達到一個特定值時的漏源電壓。這種情況下的漏源電壓為雪崩擊穿電壓。 | 60V |
| Rth(j-a) | Thermal resistance from junction to ambient | 結到環境的熱阻、結環熱阻 | 40 ℃/W | |
| Rth(j-c) | Thermal resistance from junction to case | 結到管殼的熱阻、結殼熱阻 | 0.25℃/W | |
| Rg | Gate resistance | 柵極電阻 | ||
| gfs | Forward transconductance | 跨導 | 是指漏極輸出電流的變化量與柵源電壓變化量之比,是柵源電壓對漏極電流控制能力大小的量度。 | |
| Qg | Total Gate Charge | 柵極總電荷量 | 單位nC,納庫。達到導通狀態時所需的總電荷量。Qg越小導通時間越短,開關損耗越小。 | 167nC,C是庫倫,nC是納庫 |
| Ciss | Input capacitance | 輸入電容、柵-源電容、門級電容 | 將漏源短接,用交流信號測得的柵極和源極之間的電容就是輸入電容。驅動電路和Ciss對器件的開啟和關斷延時有著直接的影響。 | 11574pF |
| Coss | Output capacitance | 漏-源電容、輸出電容 | 1836pF | |
| Crss | Reverse transfer capacitance | 反向傳輸電容 | 196pF | |
| td(on) | Turn-on delay time | 導通延遲時間 | 導通延遲時間。從有輸入電壓上升到10%開始到VDS下降到其幅值90%的時間。 | 44nS |
| td(off) | Turn-off delay time | 關斷延遲時間 | 斷延遲時間。輸入電壓下降到90%開始到VDS上升到其關斷電壓時10%的時間。 | 154nS |
| tr | Rise time | 上升時間 | 上升時間。輸出電壓VDS從90%下降到其幅值10%的時間。 | 132nS |
| tf | Fall time | 下降時間 | 降時間。輸出電壓VDS從10%上升到其幅值90%的時間。 | 137nS |
| PD | Power dissipation | 耗散功率 | 最大耗散功率.是指場效應管機能不變壞時所容許的最大漏源耗散功率.使用時,場效應管實踐功耗應小于PDSM并留有必定余量.此參數通常會隨結溫度的上升而有所減額. | 500W |
| Tj | operating junction temperature range | 最大工作結溫 | 通常為150℃或175℃,器件設計的工作條件下須確應避免超過這個溫度,并留有一定裕量。 | 175 ℃ |
| Tstg | storage temperature range | 存儲溫度范圍 | -55-175 ℃ |
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制作:快捷芯(功率半導體創新品牌)
總結
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