《炬丰科技-半导体工艺》 组合式 CMP 和晶片清洗装置方法
生活随笔
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《炬丰科技-半导体工艺》 组合式 CMP 和晶片清洗装置方法
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書籍:《炬豐科技-半導體工藝》
文章:組合式 CMP 和晶片清洗裝置方法
編號:JFKJ-21-292
作者:炬豐科技
文摘
? 一體機的拋光,清洗,漂洗和干燥工件,如半導體晶圓。一個干的末端執行機器人從磁帶中提取晶圓并傳送它們。將晶圓片送到拋光臺進行拋光。該機器人的濕末端執行器將清洗過的晶片轉移到旋轉干燥器。機器人的干末端執行器運動。
發明領域
? 本發明通常涉及自我包含機器拋光,清潔,漂洗,和旋轉干燥半導體晶圓工件,更多
? 特別是對一種改進的接收卡帶的系統對硅片、CMP進行拋光、清洗、漂洗和烘干晶圓片,并將拋光和清潔的晶圓片送回同樣的磁帶。
發明背景
? 拋光機和晶圓清潔機電子行業的磁盤一般都很好。在生產中半導體晶圓片是從一個并為進一步加工做好準備。在每一個晶圓從錠上切下,必須徹底拋光然后清洗,漂洗,晾干以清除碎屑晶圓片表面。此后,有一系列的步驟在晶圓上執行,以建立集成電路晶圓表面,包括應用微電子層結構。
本發明摘要
? 本發明克服了傳統現有技術系統通過整合拋光,清洗和干燥功能一體機。因此,本發明的主要目標是提供復合晶圓CMP拋光,清洗和從干燥機中取出晶圓的干燥機盒式磁帶,拋光,清潔,干燥,放回原處。卡式磁帶和插槽,它們被從里面取出來。
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總結
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