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第696篇推文

AMOLED顯示屏生產過程中由于材料、工藝等原因，會有部分產品出現畫面顯示亮度不均的現象，也就是Mura，這種亮度不均的斑點痕跡會給視覺上帶來不舒適感，留有這種痕跡的產品無法達到終端客戶的規格要求，一般只能報廢或降級處理。針對AMOLED生產工藝的外部補償系統是將存在Mura不良的顯示屏通過先進的子像素級光學成像技術和軟件算法消除Mura紋 (即Demura，相當于給顯示屏做美顏)，使得顯示屏的顯示質量達到面板廠出貨規格要求，提高顯示屏量產的良率。

AMOLED Demura包括如下步驟：

1.采圖：將AMOLED屏體點亮，導入不同畫面，利用補償設備上的CCD相機采圖，并自動識別子像素排列關系；

點亮面板后需要被檢測的畫面根據不同面板廠的要求，一般是不同的，常見的有32、64、96、160、192、224灰階的RGB圖像，共18張圖。

有些面板廠的Demura只對亮度差異進行補償，不對色彩差異進行補償，這種Luminance Demura一般只需要檢測灰階畫面，而且由于不同灰階時呈現的Mura不同，一般會檢測高中低灰階的Mura，最后Demura數據平均，當然具體的設定不同面板廠會根據自己的實際需求進行選擇。

有些面板廠進行的是比較全面的Color Demura,即不僅對亮度同時對色度差異也進行補償。此類型的color Demura的檢測畫面，有些采用灰階畫面，有些采用RGBW畫面，不同面板廠根據技術和需求選擇不同

2.采集的圖片導入一臺高性能PC(PC機上已經安裝Demura工具軟件)

3.利用PC上的Demura工具軟件進行數據提取(提取原始數據)、補償(計算Mura的區域、Mura邊界偵測并生成補償數據)、壓縮 (將生成的補償數據進行有效的壓縮，以便于存儲)

Mura檢測異常復雜，IC廠家、面板廠家和Demura設備廠家都有開發自己的Mura檢測算法，這也是自己的核心技術。詳細內容可以參考如下專利：

“CN106339196B-DeMura表的數據壓縮、解壓縮方法及Mura補償方法”

“CN108492776A-一種AMOLED屏亮度不均智能外部光學補償方法”

4.將壓縮過的數據保存在Flash中；

5.當Demura功能開啟時，從Flash提取數據到Driver IC內部SRAM中，IC內部將數據解壓得到完整的補償數據，并將補償數據與應用端送來的原始顯示數據疊加，生成新的數據傳送到Panel進行顯示，確認Demura補償效果。

在線Demura的流程圖如下所示：

Mura區域的計算過程一般包括：

1、求平均值：基于原始的Demura表計算表中數據的平均值；

2、比較：將原始的Demura表中的每一個數據與計算得到的平均值進行比較；

3、判斷：當被比較的數據與平均值的差值的絕對值大于預設的閾值時，確定與該被比較的數據對應的子像素包含在Mura區域內；當被比較的數據與平均值的差值的絕對值小于等于預設的閾值時，確定與該被比較的數據對應的子像素不包含在Mura區域內。其中，預設的閾值可以根據顯示面板的顯示效果進行確定。

Demura算法原理簡單描述為：把偏亮的區域變暗，或者偏暗的區域變亮、或者將有色偏的區域消除，最終的效果是使面板不同區域顯示的亮度和色彩大體相同(純色畫面)

經過Demura后的模組點亮后，可以看到顯示效果得到了明顯的改善。

文章來源：模切圈

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總結

以上是生活随笔為你收集整理的color demura原理_AMOLED中的补偿技术之外部光学补偿(Demura)的全部內容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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