测试晶面间距软件_Digital Micrograph实例教程(1):如何测量高分辨电镜图片中的晶面间距?...
前言
Digital Micrograph (DM)是美國(guó)Gatan公司推出的一款用于透射電鏡數(shù)據(jù)采集和分析的軟件,相信做過(guò)高分辨透射電鏡的朋友都非常熟悉。DM軟件的菜單欄和基本使用方法一般大家都沒(méi)啥問(wèn)題,這里就不多廢話了,咱們直奔主題,分享一些有用的東西。今天的話題是:如何利用DM來(lái)測(cè)量高分辨電鏡圖片中的晶面間距?
備注:作為一個(gè)尊重知識(shí)版權(quán)的公眾號(hào),研之成理的一貫原則是只提供使用方法,不分享軟件,需要軟件資源的朋友請(qǐng)自行百度或者在小木蟲(chóng)上搜索。
實(shí)例解析
軟件:Gatan Digital Micrograph
文件格式:dm3格式(TIFF和JPEG格式的文件不適用于本教程)
Step 1.打開(kāi)軟件,導(dǎo)入數(shù)據(jù)(.dm3格式文件)。圖1.
圖2. CeO2納米棒的HRTEM圖片
備注:.dm3是采用Gatan CCD所拍攝的高分辨透射電鏡圖片的原始格式,也是富含有效信息最多的文件格式,所以大家在測(cè)試的時(shí)候務(wù)必讓測(cè)試?yán)蠋煂m3源文件提供給你,而不是轉(zhuǎn)碼之后的TIFF或者JPEG格式。
Step 2.點(diǎn)擊工具欄中的Profile工具,在晶格條紋清晰的區(qū)域畫(huà)一條垂直于晶格條紋的線(圖3),與此同時(shí),會(huì)出現(xiàn)一個(gè)Profile窗口
圖3
Step 3.雙擊所畫(huà)的直線,設(shè)置線條寬度,然后點(diǎn)擊OK(圖4),得到一個(gè)矩形框(圖5)圖4
圖5
Step 4.通過(guò)工具欄中的選擇工具,選中所畫(huà)的線對(duì)其進(jìn)行調(diào)節(jié),使得矩形上下兩邊平行于晶格條紋(圖6)圖6
此時(shí),可以看到Profile of CeO2-0001窗口如圖7所示(備注:各個(gè)柱形圖高度越接近,測(cè)出的條紋間距值越可靠)
圖7
Step 5.在Profile窗口中采用鼠標(biāo)左鍵拽出一個(gè)虛線框(確保框線位于柱子正中間)即可顯示出距離(圖8),通常測(cè)量10個(gè)周期的距離求取平均值得到晶格條紋的晶面間距。圖8中的晶格間距為3.118 ÷ 10 = 0.3118 nm,對(duì)應(yīng)CeO2的(111)晶面。
圖8
備注:樣品各晶面的標(biāo)準(zhǔn)晶面間距可以通過(guò)Jade軟件分析XRD數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)譜圖來(lái)得到(相關(guān)教程:XRD從原始數(shù)據(jù)到圖)
Step 6.晶格條紋的標(biāo)注,這一步可以在平面設(shè)計(jì)軟件Photoshop,CorelDraw或者PPT中完成,標(biāo)注方式如圖9所示。圖9
備注:這里僅提供小編經(jīng)常使用的一種方法,并不是唯一方法!希望對(duì)大家有所幫助!
問(wèn)題征集
大家如果科研中碰到什么軟件或者基礎(chǔ)問(wèn)題,歡迎大家將具體問(wèn)題(越詳細(xì)越好)郵件發(fā)到rationalscience@163.com(郵件主題為:科研問(wèn)題征集),我們會(huì)盡我們所能幫助大家解決這些問(wèn)題!
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總結(jié)
以上是生活随笔為你收集整理的测试晶面间距软件_Digital Micrograph实例教程(1):如何测量高分辨电镜图片中的晶面间距?...的全部?jī)?nèi)容,希望文章能夠幫你解決所遇到的問(wèn)題。
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