消息称三星 HBM 内存芯片因发热和功耗问题未通过英伟达测试
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消息称三星 HBM 内存芯片因发热和功耗问题未通过英伟达测试
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5 月 24 日消息,據路透社報道,三星電子最新的高帶寬內存(HBM)芯片尚未通過英偉達測試。三名知情人士表示,該公司的芯片因發熱和功耗問題而受到影響。
報道稱,這些問題影響到了三星的 HBM3 芯片,該芯片是目前 AI GPU 最常用的第四代 HBM 標準。問題還影響了第五代 HBM3E 芯片。
三星在一份聲明中表示,HBM 是一款定制內存產品,需要“根據客戶需求進行優化流程”,并補充說,該公司正在通過與客戶的密切合作來優化其產品。它拒絕對特定客戶發表評論。注意到,英偉達拒絕置評。
三位消息人士稱,自去年以來,三星一直在努力通過英偉達對 HBM3 和 HBM3E 的測試。據兩位知情人士透露,三星 8 層和 12 層 HBM3E 芯片的失敗測試結果于 4 月份公布。
目前尚不清楚這些問題是否可以很快解決,但三位消息人士表示,未能滿足英偉達的要求增加了業界和投資者的擔憂,即三星可能會進一步落后于競爭對手 SK 海力士和美光。
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總結
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