對傳輸鏈路的關(guān)注程度越來越高

隨著信號(hào)速率躍升到 Gbps 級別乃至今天的幾十 Gbps 和全面的差分串行化，從最初關(guān)心的趨膚效應(yīng)(Skin Effect)問題，開始更多關(guān)心介質(zhì)損耗(Dielectric loss)和抖動(dòng)等信號(hào)完整性問題。從規(guī)范定義和芯片設(shè)計(jì)的源頭開始，對整個(gè)傳輸系統(tǒng)里各部件消耗的裕量都進(jìn)行了嚴(yán)格的分配和定義。當(dāng)然信號(hào)傳輸鏈路作為其中重要的組成部分之一，也是廣大業(yè)內(nèi)工程師最重要的工作對象，對最終信號(hào)的有效傳輸及對大家的重要性不言而喻。事實(shí)上高速串行差分信號(hào)的傳輸鏈路在今天由于其信號(hào)特點(diǎn)和傳輸系統(tǒng)的需要，早已經(jīng)突破傳統(tǒng)單板 PCB 形式，引入了長電纜傳輸比如典型外部接口標(biāo)準(zhǔn)如 HDMI,USB3.x及Display Port 等和更長走線的背板比如 100G-KR 等標(biāo)準(zhǔn)。推薦閱讀：

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如下先介紹幾個(gè)典型的標(biāo)準(zhǔn)對傳輸鏈路的設(shè)計(jì)和測試要求。

以 PCIE3.0 為例，針對板內(nèi)高速差分信號(hào)的傳輸?shù)臏y試采用復(fù)制鏈路(Replica Channel)，如下圖示：

圖 1 PCIE3.0 Base 規(guī)范關(guān)于 TX 測試點(diǎn)位置和測試方法說明

Base 規(guī)范要求信號(hào)測試點(diǎn)為器件的管腳，但是在實(shí)際系統(tǒng)中通常無法得到。因此規(guī)范定義了實(shí)際測試點(diǎn) TP1，但是需要得到 DUT 管腳處的信號(hào)就需要去嵌(De-Embedding)從管腳到 TP1這段走線(在PCIE Base規(guī)范中對這段走線也有專門的要求，具體詳見規(guī)范)。因此規(guī)范里引入了 Replica Channel，在 Breakout Channel 相鄰區(qū)域?qū)ｉT設(shè)計(jì)一段與 Breakout Channel 相同走線特征包括疊層及阻抗控制等要求的鏈路，然后提取其 S 參數(shù)進(jìn)行去嵌。

典型外部接口標(biāo)準(zhǔn)如 HDMI2.0/Display Port/USB3.x 則通常采用外部電纜進(jìn)行長距離信號(hào)傳輸，電纜長度一般達(dá) 1 米以上。針對這些標(biāo)準(zhǔn)的信號(hào)測試方法也產(chǎn)生了很大的變化。以 USB 標(biāo)準(zhǔn)為例，在 USB2.0 時(shí)代，定義了 4 個(gè)測試點(diǎn) TP1,TP2,TP3,TP4。其中TP2 和 TP3 分別是 Host 和 Device 的發(fā)送端信號(hào)測試點(diǎn)：

圖 2 USB2.0 測試點(diǎn)定義圖

發(fā)展到今天 USB3.x 時(shí)代，USB-IF 只定義了 Near End(TP0)和Far End(TP1)兩個(gè)測試點(diǎn)，如下圖示：

圖 3 USB3.x 測試點(diǎn)定義圖

TP0 是信號(hào)經(jīng)過 PHY 物理層芯片后輸出到接口連接器的測試點(diǎn)位置，通常只是作為 Informative 測試點(diǎn)，非必須測試。TP1 則是定義從被測設(shè)備接口連接器通過測試夾具和 3 米長的參考電纜后的測試位置，表征的是發(fā)送端信號(hào)經(jīng)過長傳輸鏈路后到遠(yuǎn)端即接收端的信號(hào)，相對于 USB2.0 標(biāo)準(zhǔn)中 Host 發(fā)送信號(hào)測試主要進(jìn)行近端眼圖測試明顯要更加科學(xué)。TP1 是 USB3.x 標(biāo)準(zhǔn)中定義的 Normative 測試點(diǎn)，相關(guān)測試如眼圖和抖動(dòng)等測試必須進(jìn)行。在規(guī)范定義的早期階段，引入 3 米長的通過測試驗(yàn)證合格的實(shí)物電纜作為 Reference Cable，但是由于不同廠家乃至不同型號(hào)電纜間存在的固有差異依然會(huì)帶來測試爭議。因此，USB-IF 協(xié)會(huì)又定義采用 S 參數(shù)文件來替代 3 米長的實(shí)物電纜模型的方法。事實(shí)上 USB-IF 針對 USB3.x 信號(hào)傳輸鏈路定義了全面的拓?fù)淠Ｐ秃透鱾€(gè)部件的損耗裕量分配：

圖 4 USB3.x 信號(hào)傳輸鏈路裕量分配示意圖

比如對典型的 Std A與Std B 接口連接電纜的 Reference Cable 相關(guān)頻域參數(shù)如下：

圖 5 USB3.x 鏈接電纜 Reference Cable 頻域參數(shù)圖

除了上面介紹的 USB3.x 發(fā)送端差分信號(hào)設(shè)計(jì)和測試引入的頻域相關(guān)參數(shù)要求，在其它標(biāo)準(zhǔn)如 HDMI2.0 和 Display Port1.3 中也采用了與 USB3.x 類似的進(jìn)行遠(yuǎn)端眼圖測試的方法，當(dāng)然也必然采用 S 參數(shù)文件替代 Reference Cable 進(jìn)行測試。

以上介紹的是消費(fèi)類電子行業(yè)高速串行總線系統(tǒng)引入的越來越多的頻域方面設(shè)計(jì)和測試的發(fā)展趨勢。

那么在今天的高速數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)中串行差分信號(hào)傳輸鏈路是如何定義的呢？以采用 56G PAM-4 信號(hào)傳輸?shù)?400G Ethernet 為例，根據(jù) IEEE P802.3bs?/D2.2 規(guī)范，200GAUI-4/400GAUI-8 定義了芯片與芯片間(C2C:Chip to Chip)互連結(jié)構(gòu)如下圖示：

圖 6 200GAUI-4/400GAUI-8 定義了芯片與芯片間(C2C:Chip to Chip)互連結(jié)構(gòu)圖

走線長度在 25cm 左右，其插入損耗(Insertion Loss)要求如下圖示：

圖 7 200GAUI-4/400GAUI-8 定義了芯片與芯片間互連鏈路插損

因此為了確保最終的信號(hào)傳輸系統(tǒng)達(dá)到或者滿足設(shè)計(jì)規(guī)范要求，各部件的設(shè)計(jì)裕量也必須在規(guī)范定義范圍內(nèi)。

再來看一個(gè)新的問題，假如有 3 塊背板，一塊是插入損耗超標(biāo)3dB，一塊是回波損耗超標(biāo) 3dB，還有一塊是串?dāng)_超標(biāo) 3dB，那么哪一個(gè)最終會(huì)得到整體最佳的信號(hào)傳輸質(zhì)量呢？為了解決這個(gè)問題，近幾年 IEEE 在 802.3bj-2014 規(guī)范里基于測量得到的 S 參數(shù)針對 10GBase-KR 鏈路設(shè)計(jì)還引入了一個(gè)新的名詞和概念COM-Channel Operating Margin，用于表征從發(fā)射端、傳輸鏈路和接收端的全部件的品質(zhì)因素，其根本目標(biāo)是針對整個(gè)傳輸鏈路的性能做歸一化分析。定義如下：

A s 是計(jì)算得到的信號(hào)幅度，A ni 是噪 聲幅 度。比 如 針對 10GBase-KR 背板鏈路模型，COM 的測量和分析涵蓋了整個(gè)系統(tǒng)從 TP0 到 TP5：

圖 8 10GBase-KR 鏈路模型示意圖

經(jīng)過抽象的典型鏈路模型如下：

圖 9 抽象鏈路模型

上圖中紅色標(biāo)識(shí)的是被侵害鏈路，COM 的計(jì)算與分析需要測試或仿真得到被侵害鏈路的 S 參數(shù)，其它侵?jǐn)_源鏈路對被侵害鏈路的 S 參數(shù)也需要經(jīng)過測量或仿真得到。

COM 的計(jì)算步驟如下：

– 固有鏈路濾波
– 將濾波后的 S 參數(shù)轉(zhuǎn)換為 SBR
– 確定參考均衡算法設(shè)置和可用信號(hào)幅度
– 確定組合的 ISI，反射和串?dāng)_的鏈路干擾
– 通過將鏈路干擾與其他噪聲源相結(jié)合，確定指定 BER 下的峰值噪聲幅度
– 根據(jù)可用的信號(hào)幅度和峰值噪聲幅度計(jì)算 COM

COM 概念由 IEEE 引入，PCI-Sig 組織近年也開始關(guān)注這一新的測量方法，未來不排除在 5.0 標(biāo)準(zhǔn)上采用這一鏈路測量方法。

網(wǎng)絡(luò)分析儀及頻域測試的基本原理

示波器測試主要是驗(yàn)證有源信號(hào)的本身的性能，眼圖測試、抖動(dòng)、信號(hào)幅度等；而網(wǎng)絡(luò)分析儀測試主要是問題定位的，一旦出現(xiàn)協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)通不過就需要網(wǎng)絡(luò)分析儀來定位的。從當(dāng)前電子產(chǎn)品研發(fā)到上市的流程來看，高速數(shù)字電路需要在研發(fā)階段就要考慮到器件、PCB、線纜的傳輸特性的測試，這樣可以大大加快產(chǎn)品的上市時(shí)間，讓你的產(chǎn)品更快的占領(lǐng)市場。

事實(shí)上針對信號(hào)傳輸鏈路的檢定和分析過往在 5Gbps 以下主要采用時(shí)域反射計(jì)(TDR)進(jìn)行阻抗分析，傳統(tǒng)的采樣示波器時(shí)域反射計(jì)（TDR）進(jìn)行阻抗測試存在很多弊端，底噪高、測試精度低、靜電敏感，隨著 Keysight 推出網(wǎng)絡(luò)分析儀 TDR 測試功能后，已經(jīng)被多個(gè)數(shù)字接口標(biāo)準(zhǔn)組織指定為標(biāo)準(zhǔn)測試方法，如 USB2X.0、 HDMI 等。不僅如此，隨著數(shù)字信號(hào)傳輸?shù)乃俾试絹碓礁?#xff0c;工作頻率已經(jīng)達(dá)到微波頻段，工作電路已經(jīng)演變成為分布參數(shù)電路。所以，對高速數(shù)字電路測試過程所用到的電路、夾具、線纜、轉(zhuǎn)接頭利用網(wǎng)絡(luò)分析儀測試成為必然。

圖 10 電磁信號(hào)傳輸模型

在頻域測試經(jīng)常會(huì)碰到 S 參數(shù)，S 參數(shù)是建立在入射波、反射波關(guān)系基礎(chǔ)上的網(wǎng)絡(luò)參數(shù)，以器件端口的反射信號(hào)以及從該端口傳向另一端口的信號(hào)來描述電路網(wǎng)絡(luò)。比如兩端口器件 S 參數(shù)定義：

S11=A/R1：被測件 1 端口的反射參數(shù) S11；

S21=B/R1：被測件 1 端口到 2 端口的傳輸參數(shù) S21；

S22=B/R2：被測件 2 口的反射參數(shù) S22；

S12=A/R2：被測件 2 端口到 1 端口的傳輸參數(shù) S12；

圖 11 網(wǎng)絡(luò)分析儀和其原理圖

利用網(wǎng)絡(luò)分析儀實(shí)現(xiàn)對 S 參數(shù)的測試。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的主要由信號(hào)源、接收機(jī)、信號(hào)分離裝置、處理顯示單元四部分組成。如果不進(jìn)行校準(zhǔn)，那么測得的 S 參數(shù)不僅是被測件的，還包括測試系統(tǒng)引入的誤差，如測試儀表、線纜、夾具等。幸運(yùn)的是這些誤差都在固定的、符合一定規(guī)律的，所以通過校準(zhǔn)即可把除被測件以外的影響因素去掉。傳統(tǒng)的校準(zhǔn)方法都是 SOLT 的雙端口同軸校準(zhǔn)，隨著器件和硬件，還有 PCB 的發(fā)展，大部分測試端口并不是同軸端面，所以對于校準(zhǔn)的要求也越來越高。有簡單的端口延伸的方法、有復(fù)雜的 TRL 校準(zhǔn)，還有去嵌入和高級的 AFR（自動(dòng)夾具移除）的方法。在后面兩種方法中，校準(zhǔn)的關(guān)鍵主要集中在高頻夾具本身參數(shù)的提取上面。

在高速數(shù)字信號(hào)傳輸系統(tǒng)中，使用的更多的是差分信號(hào)。一對差分線可以看成四端口網(wǎng)絡(luò)，單端口 S 參數(shù)通過數(shù)學(xué)變換可以直接等到差分混合 S 參數(shù)。這種測試方法叫虛擬差分測試。“虛擬"差分方法是通過數(shù)學(xué)計(jì)算，把測得的多個(gè)單端 S 參數(shù)轉(zhuǎn)化為差分 S 參數(shù)。其實(shí)儀器并沒有用差分信號(hào)去激勵(lì)被測件，而是把它當(dāng)成一個(gè)單端器件來測量。虛擬差分測試主要在小功率和無源器件測試情況下應(yīng)用，因?yàn)樘摂M測試時(shí)，由于儀器的 1 端口和 2 端口（單端端口）不能同時(shí)輸出激勵(lì)信號(hào)，因此不能再現(xiàn)被測件在實(shí)際工作狀態(tài)下的性能。這種沒有使用真實(shí)差分信號(hào)去激勵(lì)被測件的虛擬方法的精度難以保證。所以，精確表征有源器件的非線性特性，需要用到真差分激勵(lì)的混合 S 參數(shù)測試，即要保證網(wǎng)絡(luò)分析儀有兩個(gè)源同時(shí)激勵(lì)。在 Keysight PNA 系列網(wǎng)絡(luò)分析系列中，可以選擇真差分雙源激勵(lì)。PNA 網(wǎng)絡(luò)分析儀除了頻域參數(shù)測試以外，通過反傅立葉變換，可以得到在時(shí)域下的沖激響應(yīng)和階躍響應(yīng)。在沖激模式下，可以得到被測件的反射點(diǎn)、故障距離等，在階躍模式下，可以得到被測件在不同位置下的特征阻抗。通過對傳輸特性的分析還可以測試被測件的眼圖等。

圖 12 S 參數(shù)與時(shí)域 TDR/TDT 映射

針對物理層的測試，從 Agilent 時(shí)代就推出了 PLTS（物理層測試系統(tǒng)）軟件，到目前 PLTS 軟件已經(jīng)更新了十幾個(gè)版本。PLTS 是用于測量和分析物理層器件的信號(hào)完整性行業(yè)解決方案。向?qū)С绦蚩梢詭椭脩糨p松地完成校準(zhǔn)和測量多端口器件。一旦測量完畢，PLTS 可以通過多樣的顯示、分析、數(shù)據(jù)重組和轉(zhuǎn)換工具以及各種導(dǎo)入和導(dǎo)出功能，對數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理。PLTS 2015 能夠與 PNA 和 ENA 網(wǎng)絡(luò)分析儀（包括全新的 PXI VNA 體系結(jié)構(gòu)）配合使用。它可以將數(shù)據(jù)和傳輸線路模型導(dǎo)出到仿真工具，也可從仿真工具導(dǎo)入這些模型。分析功能包括頻域或時(shí)域單端和差分圖，以及眼圖和具有抖動(dòng)注入功能的多通道仿真。

圖 13 PLTS 軟件界面圖

基于 PLTS+ 網(wǎng)絡(luò)分析儀的方案，可以很方便的實(shí)現(xiàn)信號(hào)完整性的測試，包含頻域、時(shí)域、單端、差分、眼圖、RLCG 數(shù)據(jù)導(dǎo)出，同時(shí)支持探針臺(tái)和多種高級校準(zhǔn)功能，直觀、簡單、精確表征高速數(shù)字信號(hào)通道的完整參數(shù)。網(wǎng)絡(luò)分析儀不僅可以完成頻域測試，也能完成時(shí)域測試，且相對于傳統(tǒng)時(shí)域 TDR 設(shè)備具有高動(dòng)態(tài)范圍和抗靜電的優(yōu)點(diǎn)。

網(wǎng)絡(luò)分析儀在信號(hào)完整性測試和傳輸鏈路測試中的典型應(yīng)用

傳輸鏈路的 S 參數(shù)測試

圖 14 網(wǎng)絡(luò)分析儀實(shí)際測試連接圖

無論是 USB2.0, 3.0 還是 PAM4 的測試，測試的對象通常是傳輸線纜、PCB 走線、芯片或電路。通常大家用示波器測試時(shí)，對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)沒有通過，所以要排查從線纜到芯片所有可能問題出現(xiàn)的部位。網(wǎng)絡(luò)分析之所以測試精度高，主要源于網(wǎng)絡(luò)分析儀的校準(zhǔn)功能，通常網(wǎng)絡(luò)分析儀的校準(zhǔn)是基于同軸器件的校準(zhǔn)，如 SMA， N 型、2.4mm、3.5mm。很多數(shù)字工程師對這些射頻接頭并不是非常熟悉，真身照片如下：

圖 15 典型射頻接頭

不同的射頻接頭截止工作頻率是不一樣的，SMA 射頻接頭的截止工作頻率到 26GHz，3.5mm 射頻接頭的截止工作頻率可以到 34GHz，2.4mm 射頻接頭的截止工作頻率到 50GHz，而 N 型頭的截止工作頻率只能到 18GHz，性能好的可以到 26GHz。具體關(guān)于射頻接頭的技術(shù)方檔可參閱《AGILENT PRECISION RF CONNECTOR》

網(wǎng)絡(luò)儀測試校準(zhǔn)的端面都可以校準(zhǔn)到上面所述的同軸射頻微波接頭，然而對于高速數(shù)字電路所測試的被測件，通常并不是同軸接口。如果要精確測試的話，校準(zhǔn)的端面要設(shè)置在 DUT 的被測點(diǎn)和芯片管腳，也就是網(wǎng)絡(luò)儀測試連接圖所示的 DUT 測試點(diǎn)，如何在測試結(jié)果中去掉儀表、測試線纜、測試夾具的誤差？所用的最多的方法就是 TRL 校準(zhǔn)和 AFR 夾具移除。TRL 校準(zhǔn)件制作和測試過程請參閱《怎樣設(shè)計(jì)和驗(yàn)證 TRL 校準(zhǔn)件以及 TRL 校準(zhǔn)的具體過程》。（我們今后會(huì)發(fā)表哈。）

圖 16 TRL 校準(zhǔn)與 AFR 校準(zhǔn)測試結(jié)果對比

TRL 是非同軸測試精度最高的一種測試方法，不過在實(shí)際操作中需要工程師自己制作校準(zhǔn)件，制作周期長、操作比較繁瑣。2014 年 Keysight 推出了便捷的夾具移除功能 AFR，在一定程度上可以剔除夾具帶來的影響，測試精度非常接近 TRL 的校準(zhǔn)結(jié)果。在高端網(wǎng)絡(luò)分析儀PNA、PNA-X 中有對應(yīng)的選件 S93007A，同時(shí)在 PLTS 測試軟件中也包含此功能，對應(yīng)選件 N1930B-5*P。下面具體介紹一下 AFR：

AFR 的基本原理

通過測試 2*Thru 的 S 參數(shù)，把 S 參數(shù)轉(zhuǎn)換到時(shí)域通過矩陣運(yùn)算再分成兩個(gè)等效的 S 參數(shù)，采用網(wǎng)絡(luò)分析儀的去嵌功能，得到的測試結(jié)果即為 DUT 的測試參數(shù)。除了采用 2*Thru 的方法提取夾具參數(shù)，也可以采用 Open、Short 的方法進(jìn)行。不過采用 Open、 Short 的方法與 2*Thru 相比，由于高頻時(shí)開路電容的效應(yīng)，在高頻時(shí)的測試精度會(huì)有所下降。

AFR 的主要功能和特征

a) AFR 支持 2*Thru 和 Open、Short 模式下的夾具移除；
b) AFR 支持非對稱夾具參數(shù)和提取和去嵌；
c) AFR 支持 50ohm 和非 50ohm 夾具的去嵌和移除；
d) AFR 支持單端夾具和差分夾具的去嵌和移除；
e) 通過對夾具的測試或 2*Thru 的測試，直接提取夾具參數(shù)做去嵌入，測試簡單、測試精度高；

AFR 使用的限制和注意事項(xiàng)

a) 對于單端和差分測試夾具，如果測試兩端不對稱，采用2*Thru 時(shí)需要對應(yīng)兩個(gè)不同尺寸的測試校準(zhǔn)夾具；
b) Thru 測試校準(zhǔn)夾具不能太短，至少 4 倍的階躍上升時(shí)間；
c) Thru 測試校準(zhǔn)夾具的頻響帶寬要大于 DUT 測試的帶寬
i. Thru 測試校準(zhǔn)夾具的回?fù)p和插損不能有交點(diǎn)，要保證 5dB隔離。
ii. 盡可能在對夾具參數(shù)測試過程中要保證測試系統(tǒng)的阻抗匹配；

COM (Channel Operating Margin)測試

針對多鏈路的背板 COM 測試，需要多端口差分網(wǎng)絡(luò)分析儀，假如僅僅考慮主鏈路的插損和回?fù)p測試以及兩個(gè)相鄰差分鏈路引入的串?dāng)_，那么就需要 12 端口以上的網(wǎng)絡(luò)分析儀，傳統(tǒng)臺(tái)式網(wǎng)絡(luò)分析儀顯然在這一挑戰(zhàn)面前力不從心。

為了更好地應(yīng)對這一挑戰(zhàn)，Keysight 推出了基于 PXI 機(jī)箱的模塊化網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)品 M937xA 系列，M9375A 支持最高頻率26.5GHz，每個(gè)模塊 2 個(gè)端口。對應(yīng)的 M9018B PXIe 機(jī)箱有 18 個(gè)槽位，除了 M9037A 嵌入式控制器占用兩個(gè)槽位外，最多提供16 個(gè)槽位也即可以插入 16 個(gè)模塊最高可以提供 32 端口測試。

除了硬件設(shè)備外，Keysight 還在 PLTS2017 版本里增加了新的功能進(jìn)行復(fù)雜的 COM 參數(shù)計(jì)算。在 PLTS2017 版軟件定義了一個(gè)復(fù)雜的 MATLAB 腳本，用戶可以靈活地定義它。再次，PLTS 成功地采用了非常復(fù)雜的測試方法，并實(shí)現(xiàn)了用戶友好的界面，以簡化信號(hào)完整性工程師的測試。

測試步驟如下：

– 使用網(wǎng)絡(luò)分析儀測量背板互連

– 將 s12p 或 citi 格式的數(shù)據(jù)文件導(dǎo)入 PLTS

– 運(yùn)行 PLTS 里的 COM 腳本文件

– 根據(jù)需要修改 COM 數(shù)據(jù)表

– 分析得到結(jié)果

– 優(yōu)化物理層設(shè)計(jì)以改進(jìn) COM 數(shù)值

最終得到的結(jié)果如下圖示：

圖 19 COM 測試結(jié)果圖

總結(jié)

以上介紹了在今天的高速數(shù)字傳輸鏈路設(shè)計(jì)和測試的一些原理，工具及典型應(yīng)用。今天時(shí)域與頻域的界限越來越模糊，聯(lián)系和融合日益緊密，對數(shù)字開發(fā)和設(shè)計(jì)及測試工程師的挑戰(zhàn)也日益嚴(yán)峻。

N1930B 物理層測試系統(tǒng)（PLTS）2020 版軟件?www.keysight.com

網(wǎng)絡(luò)分析儀 | Keysight

N1930B 物理層測試系統(tǒng)（PLTS）2020 版軟件?www.keysight.com網(wǎng)絡(luò)分析儀 | Keysight?www.keysight.com

總結(jié)

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