adc 采樣 校準

2014-09-06 16:48?2316人閱讀?評論(0)?收藏?舉報 ?分類： 32（85）? STM32內部參照電壓VREFIN的使用


STM32的內部參照電壓VREFINT和ADCx_IN17相連接，它的作用是相當于一個標準電壓測量點，內部參照電壓VREFINT只能出現在主ADC1中使用。

內部參照電壓VREFINT與參考電壓不是一回事。ADC的參考電壓都是通過Vref+提供的并作為ADC轉換器的基準電壓。

當我們使用的Vref+是直接取自用VCC電壓時，當VCC電壓波動比較大時或穩壓性能比較差時，可以借用STM32的內部參照電壓VREFINT校正測量精度。

以測量1通道的電壓值為例，先讀出參照電壓的ADC測量結果，記為ADre；再讀出要測量通道1的ADC轉換結果，記為ADch1；則要測量的電壓為：

Vch1 = VREFINT* (（（ADch1*（VREF/4096））/（ADre*（VREF/4096））)??

注：VREFINT=1.2V，VREF為參考電壓值=3.3V

公式簡化：

Vch1 = VREFINT*（ADch1/ADre）??

這種方法等于變相將內部參照電壓VREFINT當成是ADC參考電壓，也就是說，此時Vref參考電壓的準確度已在此已對結果影響不大了，ADC的轉換結果基本由VREFINT的精度決定。

注：一般情況下，這種辦法只適合于當Vref+參考電壓（其實也就是VCC電壓）離散性實在太差的情況下使用。

我們知道，STM32中64腳和小于64腳的型號，Vref+在芯片內部與VCC信號線相連，沒有引到片外，這樣AD的參考電壓就是VCC上的電壓，那么我們可以使用一個高精度的外部參照電壓，然后用上面的方法，也許可以解決因VCC電源電壓精度不高帶來的ADC測量不準確的問題。

本帖最后由 abbott 于 2014-5-5 08:56 編輯 建議采用以下方法結合使用： 1，采用內部參考 內部參考在芯片出廠時已經校準過精度了！（不清楚是否所有型號都校準過） 其廠內校準過程是在外部供3V電源，將采樣內部參考的ADC值寫入校準寄存器VREFINT_CAL！ 因此，我們可以使用以下公式算出實際電壓： V=(3*VREFINT_CAL*ADC_DATA)/(VREFINT_DATA*FULL_SCALE) 根據這個公式，程序需要獲取VREFINT_DATA和ADC_DATA! 不過我們實際測試這個電壓參考在低溫下偏差比較大，可能是芯片本身的問題，目前還不清楚是全系列，還是個別型號有這個問題！ 2，使用過采樣!

總結

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