本章大綱

4 光條紋中心提取技術(shù)研究

4.1 結(jié)構(gòu)光條紋特征

4.2 常用的像素級(jí)別特征提取方法

4.2.1 灰度重心法4.2.2 極值法4.2.3 方向模板法4.2.4 閾值法4.2.5 幾何中心法

4.3 常用的亞像素級(jí)別特征提取方法

4.3.1 曲線擬合法4.3.2? Hessian 矩陣亞像素中心提取法

4.4 基于方向圖的光條紋亞像素中心提取

4.4.1 光條紋中心初值提取4.4.2 光條紋法向計(jì)算4.4.3? 光條紋亞像素級(jí)別中心提取4.4.4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析

4.5 特征檢測技術(shù)研究

4.5.1 背景介紹4.5.2 常見特征及其檢測方法介紹4.5.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析

4.6 本章小結(jié)

、4.5?特征檢測技術(shù)研究

4.5.1 背景介紹

多傳感器三維檢測系統(tǒng)在檢測過程中會(huì)遇到不同類型的被測特征，不同的被測特征所需要求取的參數(shù)不同。針對不同的檢測特征，提出不同的檢測方案是十分必要的。本節(jié)主要介紹了三維檢測過程中的常見特征，并且介紹了各個(gè)特征的檢測方法。

4.5.2 常見特征及其檢測方法介紹

在三維檢測過程中，不同的被測物會(huì)表現(xiàn)出不同的檢測特征，本節(jié)主要對常見的幾類特征：直線特征、臺(tái)階特征、縫隙特征、凹坑特征、圓形特征進(jìn)行介紹，并根據(jù)各個(gè)特征的特性提出合適的檢測方案。4.5.2.1 直線特征直線特征常用于被測物邊長的檢測。光條紋投射到被測物表面檢測邊長的圖像如圖 4.11( b)所示。當(dāng)光條紋垂直投射時(shí)，此時(shí)光條紋的長度即為被測物的邊長，即 AB 的長度。當(dāng)光條紋不垂直于被測物邊緣時(shí)，此時(shí)光條紋的長度不等于被測物邊長，如圖 4.11( c)所示。當(dāng)光條紋傾斜時(shí)，可采用雙條紋檢測邊長，如圖 4.11( d)所示，此時(shí)分別擬合 AA' 和 BB' 直線，計(jì)算兩條直線之間的距離作為邊長長度。

圖 4. 11 直線特征檢測圖?4.5.2.2 臺(tái)階特征臺(tái)階特征是特征檢測中常見的特征之一。光條紋垂直投射到臺(tái)階特征，臺(tái)階圖像如圖 4.11 ( b)所示。臺(tái)階特征檢測的方法為：首先擬合臺(tái)階起始點(diǎn) A' 和結(jié)尾點(diǎn) B' 為直線，計(jì)算臺(tái)階條紋上點(diǎn)到直線 L 的距離，距離最大的點(diǎn)即為臺(tái)階拐點(diǎn) A 、 B ；然后擬合直線 AA' 和 BB' ，計(jì)算拐點(diǎn) A 到直線 BB' 的距離以及點(diǎn) B 到點(diǎn) AA' 的距離；最后計(jì)算兩個(gè)距離的平均值作為臺(tái)階高度。

圖 4. 12 臺(tái)階特征檢測圖4.5.2.3 縫隙特征

縫隙特征和臺(tái)階特征一樣，也是常見的特征之一。縫隙特征檢測的常見圖像如圖 4.13( b)所示，通過求取三維點(diǎn) A 和 B 之間的距離作為縫隙的長度。對于存在高度差的縫隙特征，如圖4.13( c) 所示， 計(jì)算三維點(diǎn) A 和 B 之間的水平距離為縫隙間距， 計(jì)算點(diǎn) A 到直線 L2 的距離和 B到直線 L1 的距離的平均值作為縫隙的高度。?

圖?4. 13?縫隙特征檢測圖

4.5.2.4 凹坑特征

物體在使用、搬用過程中表面可能會(huì)產(chǎn)生損壞的情況，物體表面的凹坑是常見損壞的一種。光條紋投射到凹坑的圖像如圖 4.14( b)所示。計(jì)算圓弧上點(diǎn)到凹坑邊緣線的距離，求取距離的最大值作為凹坑的深度。單線條紋無法確定凹坑最深距離，可采用雙線光條紋或者十字光條紋進(jìn)行投射，通過重建雙線光條紋或者十字光條紋計(jì)算凹坑最深距離。

圖 4. 14 凹坑特征檢測圖

4.5.2.5 圓形特征圓形特征的檢測一般為計(jì)算圓的直徑信息。圓形特征的圖像如圖 4.15( b)所示。單條光條紋投射到圓形特征時(shí)圖像如圖 4.15( c)所示，由于單條紋不能保證條紋通過圓點(diǎn)，因此單條光條紋檢測圓形特征很難實(shí)現(xiàn)。通過投射兩條光條紋，擬合四個(gè)三維點(diǎn) A 、 B 、 A' 、 B' ，求取圓形直徑信息。

圖 4. 15 圓形特征檢測圖

4.5.3?實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析

本節(jié)主要對臺(tái)階特征和縫隙特征進(jìn)行檢測，特征檢測的圖像及結(jié)果如表 4.2、表 4.3 所示。

表 4. 2 5mm 臺(tái)階檢測(單位mm)

?本章小結(jié)

本章主要完成對光條紋中心的提取及常見特征分析工作。首先，通過介紹光條紋的光學(xué)特征引入常用的像素級(jí)別以及亞像素級(jí)別的條紋中心提取方法；然后對常用方法的基本原理進(jìn)行介紹并說明各類方法可能存在的問題或局限性；再然后提出本文的像素、亞像素級(jí)別中心提取方法。采用基于全局的中心提取方法對光條進(jìn)行像素級(jí)別提取，通過對方向圖的介紹對亞像素提取中光條紋方向進(jìn)行計(jì)算，最終計(jì)算出光條紋亞像素中心點(diǎn)坐標(biāo)；最后通過對常見特征進(jìn)行分析，設(shè)計(jì)合適的檢測方案，并對臺(tái)階、縫隙特征進(jìn)行特征檢測。

論文大綱

研究生姓名 學(xué)科、專業(yè) 研 究 方 向 指 導(dǎo) 教 師

張磊 機(jī)械電子工程 機(jī)電控制及自動(dòng)化 程筱勝 教授

在學(xué)期間的研究成果及發(fā)表的學(xué)術(shù)論文
攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表(錄用)論文情況
1、張磊,程筱勝,崔海華,戴寧,裴旭.面向高光金屬表面的激光三維檢測算法[J].光電技術(shù)應(yīng)
用,2013,28(6):44-48.
攻讀碩士學(xué)位期間參加科研項(xiàng)目情況
1、 江蘇省數(shù)字化制造重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室開放課題基金
項(xiàng)目名稱：面向強(qiáng)反射表面的多傳感器三維檢測技術(shù)研究
時(shí)間：2011年9月-2013年12月

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總結(jié)

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