文章目錄

• 負沿在前，正沿在后的固定思維是否真的正確？
• 分析 負沿+lockup+負沿
• 為什么不推薦正沿+lockup+負沿的scan chain
• 為什么不采用clock_mix的方式

本篇文章介紹幾個困惑的問題。
1、負沿在前正沿在后的固定思維是否真的正確？
2、在一個Scan CLK Domain下，為什么使用Lockup Latch?
3、為什么不采用mix_clock的方式？

負沿在前，正沿在后的固定思維是否真的正確？

當(dāng)我們在block層的時候，block A的scan chain的最后一個SDFF是正沿觸發(fā)，如果與另一個block的第一顆負沿觸發(fā)的SDFF 的SI相連接。block A和block B內(nèi)部的scan chain共用的同一個scan clock。

這種方式在chip層生成ATPG的時候，會丟失一個數(shù)據(jù)，但Tetramax能夠識別。
舉例如下圖所示：
因為第一顆的reg的launch與第二顆reg的capture在一個Cycle就可以完成，因為在1T內(nèi)，兩個寄存器的數(shù)據(jù)始終綁定。但是TetraMax能夠識別到這種架構(gòu)，不過對于block B的來講，chain上的第一個SDFF由于始終與Block A的最后一顆SDFF的值綁定，所以，如果Block B的第一顆SDFF的Q控制的logic比較大的話，就會影響到testcov
因此，對于一個clk domain來講負沿在前，正沿在后的testcov會比正沿在前，負沿在后的testcov更高。但并不是說就不能正前負后。

實際case如圖所示：

分析 負沿+lockup+負沿

所以上面的目的是為了解決hold violation的問題，那猜想，如果Scan_DFF1與lockuplatch的時序不滿足，可能就會導(dǎo)致lockup latch不能正確的鎖住值。

為什么不推薦正沿+lockup+負沿的scan chain

tool串chain的原則是負沿在前，正沿在后的原則，如果ECO的時候有將LE在TE的前面，中間插了低電平有效的Lockuplatch, 這種方式雖然把數(shù)據(jù)糾正過來了，恢復(fù)到了相當(dāng)于負沿+負沿的形式，但此時，我們僅僅是把數(shù)據(jù)糾正過來了，并沒有考慮如果有hold violation怎么辦？有skew怎么辦？你也許會說再加一個lockup，那如下圖篇末所示，導(dǎo)致數(shù)據(jù)相當(dāng)于延遲了一個T，又回到了之間在一個CYCLE就完成了launch和capture的錯誤采值問題。所以，我們是不推薦這種方式的，容易出現(xiàn)hold violation。

為什么不采用clock_mix的方式

如圖所示，tool會默認先串負沿的，對于可能發(fā)生timing的1和2處，tool會自動加上lockuplatch。但是這種方式的風(fēng)險是比較高的，因為從ideal 的情況來看如果4、6沒有插lockuplatch，以為滿足時序，但是實際中的skew與PT仿真的結(jié)果還有一定的差距，因此可能4 6之間仍然存在timing問題。為了避免這種跨時鐘域的問題，而且為了便于我們調(diào)整scan_waveform，所以不采用clock_mix的形式。

總結(jié)

以上是生活随笔為你收集整理的为什么不推荐正沿+lockup+负沿的scan chain？的全部內(nèi)容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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