先運行一下;

按二進制輸出了十六進制的07h；

十六進制07，?

轉換為二進制是 111；4 + 2 + 1 = 7；?

; print result in binary: mov bl, 09h mov cx, 8 print: mov ah, 2mov dl, '0'test bl, 10000000b; test first bit.jz zeromov dl, '1' zero: int 21hshl bl, 1 loop print ; print binary suffix: mov dl, 'b' int 21h

?首先把要輸出的數字放入bl；

把8放入cx，這個是循環次數；8位二進制數字每次輸出一個；

把2放入ah，

int 21h，ah = 02 子功能，其功能是顯示輸出，要輸出的字符放在dl寄存器中；
把 0 放入 dl；

比較bl和二進制的 10000000；

如果為零，跳到 zero 處；

如果非零，把 1 放入 dl；

這樣就把每次要輸出的1或0放入了dl；

?

匯編test指令：

Test命令將兩個操作數進行邏輯與運算，并根據運算結果設置相關的標志位。

Test命令的兩個操作數不會被改變。

Test對兩個參數(目標，源)執行AND邏輯操作，并根據結果設置標志寄存器，結果本身不會保存。
TEST AX,BX 與 AND AX,BX 命令有相同效果，只是Test指令不改變AX和BX的內容，而AND指令會把結果保存到AX中。

?

intel對test指令的描述如下：

TEMP ←SRC1 AND SRC2;
　　SF ←MSB(TEMP);
IF TEMP = 0
　　THEN ZF ←1;
　　ELSE ZF ←0;
　　FI:
　　
　　PF ←BitwiseXNOR(TEMP[0:7]);
　　CF ←0;
　　OF ←0;
　　(* AF is undefined *)

test運用舉例
1.
test eax，100b；b后綴意為二進制
jnz ******；如果eax右數第三個位為1，jnz將會跳轉

2.Test的一個非常普遍的用法是用來測試一方寄存器是否為空：
test ecx, ecx
jz somewhere
如果ecx為零，設置ZF零標志為1，jz跳轉。

test后一般跟跳轉指令；

?

然后執行 int 21h，輸出了dl中的字符；

然后把bl內容左移一位；下次循環測試下一位是輸出1還是0；

?

匯編shl指令：

SHL是一個匯編指令，作用是邏輯左移指令，將目的操作數順序左移1位或CL寄存器中指定的位數。左移一位時，操作數的最高位移入進位標志位CF，最低位補零。

?

如此循環8次，輸出每一位的1或0；

最后把字符'b'放入dl，輸出此字符，二進制的結尾標志；

?

再輸出一次；

十六進制9；

轉換為二進制是1001； 2^3=8, 8+1=9；?

看一下輸出結果，沒有錯；?

?

總結

以上是生活随笔為你收集整理的80x86汇编按二进制输出数字的程序图解和代码解释的全部內容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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