思路:

1.當(dāng)測試與被測試的芯片全部可以互相測試時，為好芯片;

?

示例代碼:

#include <stdio.h>
#define N 20

int main(void)
{
　　int n = 0 ;
　　int i = 0 , j = 0 , a = 0 , b = 0;
　　int num[N][N] = {0};
　　scanf("%d",&n);
　　for (i = 0 ; i < n ; i ++)
　　{
　　　　for (j = 0 ; j < n ; j ++)
　　　　{
　　　　　　scanf("%d",&num[i][j]);
　　　　}
　　}
　　for (i = 0 ; i < n ; i ++)
　　{
　　　　a = b = 0 ;
　　　　for (j = 0 ; j < n ; j ++)
　　　　{
　　　　　　if (i == j)
　　　　　　{
　　　　　　　　continue;
　　　　　　}
　　　　　　if (num[i][j])
　　　　　　{
　　　　　　　　a ++ ;
　　　　　　　　if (num[j][i])
　　　　　　　　{
　　　　　　　　　　b ++ ;
　　　　　　　　}
　　　　　　}
　　　　}　　
　　　　if (a == b && a)
　　　　{
　　　　　　printf("%d ",i+1);
　　　　}
　　}

　　return 0;
}

轉(zhuǎn)載于:https://www.cnblogs.com/mind000761/p/8341027.html

總結(jié)

以上是生活随笔為你收集整理的BASIC-23_蓝桥杯_芯片测试的全部內(nèi)容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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