納米孔測序的優(yōu)點十分明顯，與前幾代技術(shù)相比在成本、速度方面有著很大優(yōu)勢，但是目前還處在起步階段，從測序原理到制造工藝都存在有許多問題，許多技術(shù)也都只停留在理論階段。其面臨的挑戰(zhàn)主要是如下幾個部分：電流檢測系統(tǒng)：電流識別最短距離為3nm，而且目前的材料幾乎很難尋找到孔徑這么小的材料。納米膜系統(tǒng)：限制目前的納米孔大小，目前有關(guān)納米孔制作方面仍有很大的阻力數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)：即使很多人獲取這些數(shù)據(jù)，但是對于數(shù)據(jù)的運行和分析仍舊存在很大障礙。

納米孔測序技術(shù)有一個很大的局限：測序錯誤率超高。納米孔測序的錯誤率達(dá)到了35%。平均10個堿基，就有3.5個測序錯誤。其中3%的插入錯誤，16%的刪除錯誤，16%的錯配。高達(dá)35%的錯誤率，意味著基因突變檢測成為納米孔測序的禁區(qū)，也成為納米孔測序的致命弱點。

總結(jié)

以上是生活随笔為你收集整理的你们觉得纳米孔测序技术存在着什么局限或者挑战呢？的全部內(nèi)容，希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。

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