基礎(chǔ)練習(xí) 芯片測(cè)試 ? 時(shí)間限制：1.0s ? 內(nèi)存限制：512.0MB 問題描述 有n（2≤n≤20）塊芯片，有好有壞，已知好芯片比壞芯片多。
　　每個(gè)芯片都能用來(lái)測(cè)試其他芯片。用好芯片測(cè)試其他芯片時(shí)，能正確給出被測(cè)試芯片是好還是壞。而用壞芯片測(cè)試其他芯片時(shí)，會(huì)隨機(jī)給出好或是壞的測(cè)試結(jié)果（即此結(jié)果與被測(cè)試芯片實(shí)際的好壞無(wú)關(guān)）。
　　給出所有芯片的測(cè)試結(jié)果，問哪些芯片是好芯片。 輸入格式 輸入數(shù)據(jù)第一行為一個(gè)整數(shù)n，表示芯片個(gè)數(shù)。
　　第二行到第n+1行為n*n的一張表，每行n個(gè)數(shù)據(jù)。表中的每個(gè)數(shù)據(jù)為0或1，在這n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的數(shù)據(jù)表示用第i塊芯片測(cè)試第j塊芯片時(shí)得到的測(cè)試結(jié)果，1表示好，0表示壞，i=j時(shí)一律為1（并不表示該芯片對(duì)本身的測(cè)試結(jié)果。芯片不能對(duì)本身進(jìn)行測(cè)試）。 輸出格式 按從小到大的順序輸出所有好芯片的編號(hào) 樣例輸入 3
1 0 1
0 1 0
1 0 1 樣例輸出 1 3 1 #include<stdio.h> 2 #include<string.h> 3 4 int a[30][30]; 5 int main() 6 { 7 int n; 8 scanf("%d",&n); 9 for(int i=1;i<=n;i++) 10 { 11 for(int j=1;j<=n;j++) 12 scanf("%d",&a[i][j]); 13 } 14 int j; 15 for(int i=1;i<=n;i++) 16 { 17 int s=0; 18 for(j=1;j<=n;j++) 19 { 20 s+=a[j][i];//代表有一半以上的芯片同意了此芯片是好的芯片，所以此芯片一定是一個(gè)好的芯片 21 } 22 if(s>n/2) 23 { 24 printf("%d ",i); 25 } 26 } 27 printf("\n"); 28 return 0; 29 }

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總結(jié)

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