題目描述
有n塊芯片，有好有壞，已知好芯片比壞芯片多。

每個芯片都能用來測試其他芯片。用好芯片測試其他芯片時，能正確給出被測試芯片是好還是壞。而用壞芯片測試其他芯片時，會隨機(jī)給出好或是壞的測試結(jié)果（即此結(jié)果與被測試芯片實際的好壞無關(guān)）。

給出所有芯片的測試結(jié)果，問哪些芯片是好芯片。
輸入
輸入數(shù)據(jù)第一行為一個整數(shù)n，表示芯片個數(shù)。

第二行到第n+1行為n*n的一張表，每行n個數(shù)據(jù)。表中的每個數(shù)據(jù)為0或1，在這n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的數(shù)據(jù)表示用第i塊芯片測試第j塊芯片時得到的測試結(jié)果，1表示好，0表示壞，i=j時一律為1（并不表示該芯片對本身的測試結(jié)果。芯片不能對本 身進(jìn)行測試）。

（2≤n≤20）
輸出
按從小到大的順序輸出所有好芯片的編號
樣例輸入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

樣例輸出

1 3

解題思路：
首先將測試結(jié)果表中的數(shù)據(jù)的可以判定為無效的數(shù)據(jù)進(jìn)行甚至為INF
　　對于一個芯片的測試結(jié)果，如果有效的數(shù)據(jù)中1的個數(shù)num1大于0的個數(shù)num0，那么說明這芯片是正常的芯片，那么這個芯片的所有測試結(jié)果就是正確的。
　　如果num0<num1,則這個芯片是壞的，將這個芯片的測試數(shù)據(jù)都舍棄掉，設(shè)置為INF

思路鏈接：
https://www.cnblogs.com/zuimeiyujianni/p/8933133.html

代碼如下：

#include <iostream> using namespace std; int INF = 0xfffffff; bool Find; const int N = 21; int a[N][N]; int n;int main() {cin >> n;for (int i = 1; i <= n; i++)for (int j = 1; j <= n; j++) {cin >> a[i][j];if ( i == j)a[i][j] = INF;}int k = 1;while (!Find) {int num1 = 0, num0 = 0;for (int i = 1; i <= n; i++) {if (a[i][k] == 1)num1++;else if (a[i][k] == 0)num0++;} // 找到了正常芯片，由正常芯片測試的結(jié)果一定是正確的if (num1 > num0) {Find = 1;for (int i = 1; i <= n; i++) {if (a[k][i] == 1 || k == i)cout << i << " ";}//這里不能寫else，因為num1==num0的情況我們無法判斷} else if (num1 < num0) {for (int i = 1; i <= n; i++) {a[k][i] = INF;}}k++;if (k == n + 1)k = 1;}return 0; }

總結(jié)

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