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闩锁效应的产生原因及解决办法
發(fā)布時間:2023/12/10
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豆豆
生活随笔
收集整理的這篇文章主要介紹了
闩锁效应的产生原因及解决办法
小編覺得挺不錯的,現(xiàn)在分享給大家,幫大家做個參考.
閂鎖效應(yīng)
文章目錄
- 閂鎖效應(yīng)
- 一、閂鎖效應(yīng)產(chǎn)生原因
- 二、閂鎖效應(yīng)解決辦法
一、閂鎖效應(yīng)產(chǎn)生原因
由于寄生產(chǎn)生閂鎖效應(yīng),形成寄生npn,pnp型雙極晶體管,又由于寄生電阻R2,R3的存在,形成正反饋放大回路。將電流不斷放大,導(dǎo)致電源和地之間形成極大導(dǎo)通電流,燒壞整個芯片。
二、閂鎖效應(yīng)解決辦法
1.為使閂鎖效應(yīng)不再發(fā)生,應(yīng)當使R2,R3足夠的小,通過添加well tap實現(xiàn),如下圖。
2.使用SOI技術(shù)
如下圖,引入SiO2絕緣層,將每個晶體管(transition)隔離開,避免耦合,目前比較少見。
總結(jié)
以上是生活随笔為你收集整理的闩锁效应的产生原因及解决办法的全部內(nèi)容,希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。
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