IC的ESD测试方法
主要有四種ESD測試組合:
一.輸入/輸出 pin相對于VDD/VSS測試。
注解:
(1)所有輸入/輸出PAD相對于地的正向ESD脈沖測試。
(2)所有輸入/輸出PAD相對于地的負向ESD脈沖測試。
(3)所有輸入/輸出PAD相對于電源的正向ESD脈沖測試。
(4)所有輸入/輸出PAD相對于電源的負向ESD脈沖測試。
二. Pin to Pin ESD測試
注解:
(1)每一個輸入/輸出相對于其他所有的輸入/輸出的正向ESD脈沖測試。
(2)每一個輸入/輸出相對于其他所有的輸入/輸出的負向ESD脈沖測試。
三.?VDD to?VSS ESD測試
注解:
(1)正的ESD電壓出現在VDD腳,此時VSS腳接地,但所有I/O腳皆懸空。
(2)負的ESD電壓出現在VDD腳,此時VSS腳接地,但所有I/O腳皆懸空。
四. Analog Pin ESD測試
在模擬IC內常有差動輸入級(Differential Pair)。如OP的差動輸入級的正負輸入端連接到IC的Pin時,這兩支輸入腳要另外單獨做R電放電測試,以驗證該兩支輸入腳所連接的差動輸入級會不會被靜電放電所破壞。
注解:
(1)正的ESD電壓出現在差動輸入級的正輸入腳位,此時差動輸入級的負輸入腳接地,其他所有I/O腳以及VDD,VSS腳皆懸空。
(2)負的ESD電壓出現在差動輸入級的正輸入腳位,此時差動輸入級的負輸入腳接地,其他所有I/O腳以及VDD,VSS腳皆懸空。
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總結
以上是生活随笔為你收集整理的IC的ESD测试方法的全部內容,希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。
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