java蓝桥杯 基础练习 芯片测试
生活随笔
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java蓝桥杯 基础练习 芯片测试
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問題描述
有n(2≤n≤20)塊芯片,有好有壞,已知好芯片比壞芯片多。
每個(gè)芯片都能用來(lái)測(cè)試其他芯片。用好芯片測(cè)試其他芯片時(shí),能正確給出被測(cè)試芯片是好還是壞。而用壞芯片測(cè)試其他芯片時(shí),會(huì)隨機(jī)給出好或是壞的測(cè)試結(jié)果(即此結(jié)果與被測(cè)試芯片實(shí)際的好壞無(wú)關(guān))。
給出所有芯片的測(cè)試結(jié)果,問哪些芯片是好芯片。 輸入格式 輸入數(shù)據(jù)第一行為一個(gè)整數(shù)n,表示芯片個(gè)數(shù)。
第二行到第n+1行為n*n的一張表,每行n個(gè)數(shù)據(jù)。表中的每個(gè)數(shù)據(jù)為0或1,在這n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的數(shù)據(jù)表示用第i塊芯片測(cè)試第j塊芯片時(shí)得到的測(cè)試結(jié)果,1表示好,0表示壞,i=j時(shí)一律為1(并不表示該芯片對(duì)本身的測(cè)試結(jié)果。芯片不能對(duì)本身進(jìn)行測(cè)試)。 輸出格式 按從小到大的順序輸出所有好芯片的編號(hào) 樣例輸入 3
1 0 1
0 1 0
1 0 1 樣例輸出
每個(gè)芯片都能用來(lái)測(cè)試其他芯片。用好芯片測(cè)試其他芯片時(shí),能正確給出被測(cè)試芯片是好還是壞。而用壞芯片測(cè)試其他芯片時(shí),會(huì)隨機(jī)給出好或是壞的測(cè)試結(jié)果(即此結(jié)果與被測(cè)試芯片實(shí)際的好壞無(wú)關(guān))。
給出所有芯片的測(cè)試結(jié)果,問哪些芯片是好芯片。 輸入格式 輸入數(shù)據(jù)第一行為一個(gè)整數(shù)n,表示芯片個(gè)數(shù)。
第二行到第n+1行為n*n的一張表,每行n個(gè)數(shù)據(jù)。表中的每個(gè)數(shù)據(jù)為0或1,在這n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的數(shù)據(jù)表示用第i塊芯片測(cè)試第j塊芯片時(shí)得到的測(cè)試結(jié)果,1表示好,0表示壞,i=j時(shí)一律為1(并不表示該芯片對(duì)本身的測(cè)試結(jié)果。芯片不能對(duì)本身進(jìn)行測(cè)試)。 輸出格式 按從小到大的順序輸出所有好芯片的編號(hào) 樣例輸入 3
1 0 1
0 1 0
1 0 1 樣例輸出
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import java.util.Scanner; public class Main {public static void main(String[] args) {Scanner key=new Scanner(System.in);int n=key.nextInt();int [][]a=new int[n+1][n+1];for(int i=0;i<n;i++){for(int j=0;j<n;j++){a[i][j]=key.nextInt();}}for(int i=0;i<n;i++){int t = 0,f = 0;// t表示值為“1”的次數(shù),f表示值為“0”的次數(shù),注意每輪循環(huán)要置0for(int j=0;j<n;j++){if(a[j][i]==1) t++;if(a[j][i]==0) f++; }if(t>f) System.out.print((i+1)+" ");//t和f不可能相等,因?yàn)楹眯酒嗯c壞芯片}} }總結(jié)
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