java蓝桥杯 基础练习 芯片测试
生活随笔
收集整理的這篇文章主要介紹了
java蓝桥杯 基础练习 芯片测试
小編覺得挺不錯的,現在分享給大家,幫大家做個參考.
問題描述
有n(2≤n≤20)塊芯片,有好有壞,已知好芯片比壞芯片多。
每個芯片都能用來測試其他芯片。用好芯片測試其他芯片時,能正確給出被測試芯片是好還是壞。而用壞芯片測試其他芯片時,會隨機給出好或是壞的測試結果(即此結果與被測試芯片實際的好壞無關)。
給出所有芯片的測試結果,問哪些芯片是好芯片。 輸入格式 輸入數據第一行為一個整數n,表示芯片個數。
第二行到第n+1行為n*n的一張表,每行n個數據。表中的每個數據為0或1,在這n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的數據表示用第i塊芯片測試第j塊芯片時得到的測試結果,1表示好,0表示壞,i=j時一律為1(并不表示該芯片對本身的測試結果。芯片不能對本身進行測試)。 輸出格式 按從小到大的順序輸出所有好芯片的編號 樣例輸入 3
1 0 1
0 1 0
1 0 1 樣例輸出
每個芯片都能用來測試其他芯片。用好芯片測試其他芯片時,能正確給出被測試芯片是好還是壞。而用壞芯片測試其他芯片時,會隨機給出好或是壞的測試結果(即此結果與被測試芯片實際的好壞無關)。
給出所有芯片的測試結果,問哪些芯片是好芯片。 輸入格式 輸入數據第一行為一個整數n,表示芯片個數。
第二行到第n+1行為n*n的一張表,每行n個數據。表中的每個數據為0或1,在這n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的數據表示用第i塊芯片測試第j塊芯片時得到的測試結果,1表示好,0表示壞,i=j時一律為1(并不表示該芯片對本身的測試結果。芯片不能對本身進行測試)。 輸出格式 按從小到大的順序輸出所有好芯片的編號 樣例輸入 3
1 0 1
0 1 0
1 0 1 樣例輸出
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import java.util.Scanner; public class Main {public static void main(String[] args) {Scanner key=new Scanner(System.in);int n=key.nextInt();int [][]a=new int[n+1][n+1];for(int i=0;i<n;i++){for(int j=0;j<n;j++){a[i][j]=key.nextInt();}}for(int i=0;i<n;i++){int t = 0,f = 0;// t表示值為“1”的次數,f表示值為“0”的次數,注意每輪循環要置0for(int j=0;j<n;j++){if(a[j][i]==1) t++;if(a[j][i]==0) f++; }if(t>f) System.out.print((i+1)+" ");//t和f不可能相等,因為好芯片多與壞芯片}} }總結
以上是生活随笔為你收集整理的java蓝桥杯 基础练习 芯片测试的全部內容,希望文章能夠幫你解決所遇到的問題。
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